• help
  • PC | SP
  • JP | EN
          
検索対象：     
報告書番号：
※ 半角英数字
 年 ～ 
 年
全てクリア
前の画面に戻る

Analysis of the asymmetric 002 X-ray line profiles of $$gamma$$-irradiated polyethylene

$$gamma$$線照射したポリエチレンの非対称X線回折線プロフィルの解析

依田 修; 小田島 晟*

not registered; not registered

非対称X線回折線プロフィルの解析を行い、非対称性は、プロフィルの反射次数が低く、格子歪がプロフィルの幅を広げる効果があまり顕著でない場合には、微結晶のサイズと格子面間隔の間に一定の相関があるために現れることを見出した。$$gamma$$線を大量に照射したポリエチレンの002プロフィルに応用し、サイズと両間隔の相関を明らかにして、$$gamma$$線によるポリエチレン結晶の崩壊機構を明らかにした。

no abstracts in English

使用言語

 :

English

掲載資料名

 :

Japanese Journal of Applied Physics

巻

 :

19

号

 :

7

ページ数

 :

p.1241 - 1245

発行年月

 :

1980/00

発表会議名

 :

開催年月

 :

開催都市

 :

開催国

 :

キーワード

 :

Line Profile Analysis; X-ray; Assymmetry; $$gamma$$-irradiation; Polyethylene

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

https://doi.org/10.1143/JJAP.19.1241

研究データの公開先DOI

 :

使用施設

 :

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

 :

受委託・共同研究相手機関

 :

Access

 :

- Accesses

InCites™

 :

パーセンタイル：50.72

分野：Physics, Applied

Altmetrics

 :

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.

前の画面に戻る