Sasuga, Tsuneo; Hagiwara, Miyuki
結晶性のポリエーテル・エーテル・ケトンPEEKの分子運動性の検討、および電子線照射による分子運動性の変化を検討し、損傷機構の解明を行った。ガラス転移に関係する
分散ピークの高温への移動、分散域での剛性率の変化から、電子線照射により架橋が生成すること、照射によって新たな分散('分散)が現れることから、同時に主鎖切断も起きていることが明らかとなった。低温の
分散挙動の照射による変化から、照射により結晶~非晶界面に存在する分子鎖が損傷していることがわかった。結晶性PEEKが非晶性PEEKに比べて耐放射性が劣るのは非晶~結晶内の tie-molecule が損傷を受けるためと結論した。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
: | 27 |
号 |
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ページ数 |
: | p.821 - 826 |
発行年月 |
: | 1986/00 |
キーワード |
: | Crystalline PEEK; Molecular motion; Electrom beam; Croslinking; Chain scission; Crystalline-noncrystalline interface |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：89.63 分野：Polymer Science |
Altmetrics |
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