not registered; Shiraishi, K.
中性子照射損傷の模擬試験としてイオン照射実験を行う場合、イオン照射によって試料中に生じる欠陥の分布についてよく調べておかなくてはならない。溶体化処理した316ステンレス鋼に24MeVのヘリウム・イオンを照射した後750
Cで1時間熱処理し化学エッチをすると照射面から107
mの距離に2本の平行線が現われる。この2本の線は、照射試料の断面の電子顕微鏡組織観察で観られる、2列に並んだフランク型の転位ループに対応している。このフランク型の転位ループは、照射後熱処理した試料に生じるヘリウム気泡が分布する領域の両側に生じるものであり、ヘリウムの気泡の分布は室温で入射したヘリウムの分布とそれほど異っていないので、化学エッチで観られる2本の平行線の中心線が入射ヘリウムの平均の飛程を表わすものであると結論できる。このようにして測定したステンレス鋼中のヘリウムの平均飛程は22~32MeVのエネルギー範囲で計算によって求めた値とよい一致を示す。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 25 |
号 |
: | 2 |
ページ数 |
: | p.123 - 125 |
発行年月 |
: | 1983/00 |
キーワード |
: | ステンレス鋼; イオン照射損傷; ヘリウム・イオン; 平均飛程; 電子顕微鏡組織; 飛程の測定; 照射欠陥分布; ヘリウム気泡; 欠陥の深さ分布; 転位ループ |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：0.29 分野：Nuclear Science & Technology |
Altmetrics |
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