使用言語 |
: | Japanese |
---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 26 |
号 |
: | 11 |
ページ数 |
: | p.974 - 976 |
発行年月 |
: | 1984/00 |
キーワード |
: | ステンレス鋼; Ar-イオン; N-イオン; 平均飛程; 飛程測定; 電子顕微鏡組織; 照射欠陥; 欠陥の深さ分布; 化学エッチング; 腐食線 |
論文URL |
: |
|
---|---|---|
論文解説記事 |
: |
Access |
: |
- Accesses |
---|---|---|
InCites™ |
: |
パーセンタイル:0.3 分野:Nuclear Science & Technology |
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.