高速炉体系における大きな負の反応度の測定,3; 中性子源引抜き法

Reactivity Measurement in a Far-Subcritical Fast System,III; Source Jerk Method

not registered; not registered; not registered; M.Cho*

深い未臨界状態にある体系の反応度を可能な限り正確に求めることを目的にFCA VI-2 B2集合体において一連の実験を行った。反応度測定法として5つの方法を採用したが、本報告はそのうち中性子源引抜き法による測定について述べる。B $_{4}$ C量の変化、その挿入位置の変化により-2ドルから-7ドルまでの未臨界体系を作り、体系の内外に置いた5系統の測定系により反応度を測定した。外部中性子源としてコッククロフト加速器からの14MeV中性子を用いた。反応度の観測値の検出器位置依存性は、B $_{4}$ Cピン・クラスター位置との関係よりも中性子源位置との関係が大きいことが判明した。検出器位置の中性子検出効率を導入し、中性子源挿入時と引抜き後の検出効率の違いを補正すると体系内の観測値は互に一致するようになり、反応度の定義と厳密に一致する実験値を十分な精度で求めることが出来た。この実験値は中性子源増倍法による実験値と3%以内で一致した。

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使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-M 6496
ページ数	:	21 Pages
発行年月	:	1976/03
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-6496.pdf:0.85MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-6496
キーワード	:	Source Jerk; Reactivity; Far-Subcriticality; Fast System; Experiment
使用施設	:
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : M006496
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