K-X線放射断面積の評価と高温プラズマ中の金属不純物密度計測への応用

Evaluations of Radiation Cross Sections of K X-rays and Application to Measurements of Metal Impurities in High Temperature Plasmas

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高温プラズマ中の金属不純物からの電子衝突によるK-X線放射断面積のエネルキー依存性を、原子番号が6から82の範囲で3種の方法により計算した。電子のエネルギーが500KeVまでは相対論的理論(A&M理論)による断面積の計算値が実験値と良い一致を示した。これらの結果からK-X線放出率の電子温度依存性を求めた。金属不純物毒が半導体検出器による軟X線スペクトルの絶対測定値からK-X線放出率を使用して導出できることを示した。

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使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-M 7196
ページ数	:	20 Pages
発行年月	:	1977/07
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-7196.pdf:0.68MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-7196
キーワード	:	Radiation Cross; K-X-rays; Metal Impurities; High Temperature Plasmas; Relativistic Theory; Emission Rate; Semiconductor Detector; Soft X-ray Spectra
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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他機関報告書番号	:

Access	:	- Accesses
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登録番号 : M007196
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