高電子密度化におけるJFT-2プラズマの低周波振動

Low Frequency Fluctuations in High Dencity JFT-2 Plasma

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本報告書は、高密度化におけるJFT-2プラズマの低周波振動を磁気プローブとX線半導体検出器とを用いて調べた結果を述べたものである。高速ガス注入による電子密度の増加の過程においてはm=1、n=1の内部振動は発生しない。ガス注入を中断するとm=1、n=1の内部振動あるいはm=0、n=0の内部スパイク振動が発生する。高密度化の限界は電圧のネガティブスパイクにある。ネガティブスパイクの直前においては、m=1、m=2の振動が成長し、これらの振動がネガティブスパイクをひきおこしている。

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使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-M 7431
ページ数	:	20 Pages
発行年月	:	1977/12
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-7431.pdf:0.92MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-7431
キーワード	:	核融合; プラズマ; トーラス; 磁気流体力学; 中性ガス; 幅射損失
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : M007431
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