Hellgren, N.*; Guo, J.*; Luo, Y.*; S
the, C.*; 安居院 あかね; Kashtanov, S.*; Nordgren, J.*; 
gren, H.*; Sundgren, J.-E.*
Hellgren, N.*; Guo, J.*; Luo, Y.*; Sthe, C.*; Agui, Akane; Kashtanov, S.*; Nordgren, J.*; gren, H.*; Sundgren, J.-E.*
窒化炭素は近年ハードディスクや記録ヘッドなどの材料として着目されている。本研究ではマグネトスパッタ法によって作成した窒化炭素薄膜の電子構造を、軟X線光電子分光,X線吸収分光法,発光分光法によって測定した。これにより、薄膜作成時の温度などの条件で窒素-炭素の結合や、そのマイクロストラクチャーが変化することがわかった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 471 |
号 |
: | 1-2 |
ページ数 |
: | p.19 - 34 |
発行年月 |
: | 2005/01 |
キーワード |
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論文URL |
: |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：96.57 分野：Materials Science, Multidisciplinary |
Altmetrics |
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