Polarizance of a synthetic mica crystal polarizer and the degree of linear polarization of an undulator beamline at 880eV evaluated by the rotating-analyzer method

回転検光子法による880eVでの合成雲母結晶偏光子の偏光能とアンジュレータビームラインの直線偏光度の評価

今園 孝志; 広野 等子*; 木村 洋昭*; 斎藤 祐児  ; 石野 雅彦; 村松 康司*; 小池 雅人; 佐野 一雄*

Imazono, Takashi; Hirono, Toko*; Kimura, Hiroaki*; Saito, Yuji; Ishino, Masahiko; Muramatsu, Yasuji*; Koike, Masato; Sano, Kazuo*

回転検光子法により合成雲母(フッ素金雲母)結晶を用いた反射型偏光子の偏光能の評価を行い、水平偏光モードにおけるAPPLE-2型可変偏光アンジュレータ光源BL23SUビームライン(SPring-8)の直線偏光度を評価した。その結果、入射エネルギー880eV,入射角45近傍での合成雲母のs偏光及びp偏光反射率はそれぞれ2.6%及び0.013%であった。回転検光子法に基づく解析の結果、合成雲母の偏光能は少なくとも0.9970.002、入射光の直線偏光度(880eV)は0.9930.004であることがわかった。

Polarizance of a reflection-type polarizer made with a synthetic mica (fluorophlogopite) single crystal was evaluated at the photon energy of 880 eV by means of the rotating-analyzer method in conjunction with the evaluation of the degree of linear polarization of the insertion beamline, SPring-8 BL23SU, featuring an APPLE-2 type variably polarizing undulator. When the undulator was tuned to the horizontal linear polarization mode, the maximum reflectances for s- and p-polarization for a symmetric Bragg reflection of synthetic mica(002) were 2.6% and 0.013%, respectively, at incident angles of near 45. Our analysis based on the rotating-analyzer method gave the polarizance of the polarizer of at least 0.997 0.002 and the degree of linear polarization of 0.993 0.004 in the linear polarization mode.