Electron density behavior during fast termination phase of post-disruption runaway plasma

ディスラプション後の逃走電子プラズマの急速消滅時における電子密度挙動

河野 康則; 仲野 友英; 朝倉 伸幸; 玉井 広史 ; 諫山 明彦; 近藤 貴; 波多江 仰紀; 竹永 秀信; 井手 俊介

Kawano, Yasunori; Nakano, Tomohide; Asakura, Nobuyuki; Tamai, Hiroshi; Isayama, Akihiko; Kondoh, Takashi; Hatae, Takaki; Takenaga, Hidenobu; Ide, Shunsuke

ディスラプションにより発生する逃走電子プラズマが急速に消滅する際の特性理解を目的として、JT-60Uにおいて、接線炭酸ガスレーザ干渉計を用いた電子密度計測を行った。その結果、1回目の逃走電子電流急速減衰時には、直後に電子密度が急増することを観測した。また、2回目の急速減衰時には、電子密度が周期約1ミリ秒のスパイク状電子密度変動を伴い増加する場合があることを見いだした。このとき、増加した電子密度により電流減衰が速まっている可能性が示唆された。

Electron density of post-disruption runaway plasmas in JT-60U has been measured by the tangential CO laser interferometer. Increases in electron density after the first drop of runaway plasma current have been observed during a fast termination phase of the runaway plasma. At the second current drop, an increase in electron density with multiple spikes or oscillation with the period of 1 ms has been found. It is suggested that the increased electron density seems to take part in the shorter current decay time after the second current drop.