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1,000m対応水理試験装置(高温環境型)の設計

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平田 洋一*; 後藤 和幸*; 小川 賢*

Hirata, Yoichi*; not registered; not registered

本業務は、現存の1,000m対応水理試験装置を基に孔内部構造の簡素化、試験精度、機動性、および耐久性を向上させるためのシステムと、高温環境下で正常に動作できる電子回路の設計を実施したものである。孔内装置部のシステム設計は、発熱防止型電動バルブと電磁バルブの装備、内部配管および部品配置の最適化、更に操作性や点検整備性を考慮し、技術仕様で示された項目を満足した。また、電子回路は、上記システムの変更に伴った再設計を行うと共に、装置に必要な電子部品の中から高温に対応出来ないものを洗い出し、その部品と同等以上の性能で且つ高温に対応する部品を調査し選定した結果、環境温度70$$^{circ}C$$以下で動作可能な回路を設計することができた。

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