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TDR法による岩石の比誘電率測定に及ぼすプローブの設置方法、亀裂の有無および高温の影響

Effects of Probe Installation Method, Crack Existence and High Temperature on Apparent Dielectric Constant Determined by Time Domain Reflectometry in Rocks

林 為人*; 櫟原 昇; 西田 薫*; 高橋 学*; 榊 利博

Lin, W.*; Hirahara, Noboru; Nishida, Kaoru*; Takahashi, Manabu*; Sakaki, Toshihiro

TDR(Time Domain Reflectometry)法は、比誘電率測定を用いて岩石の体積含水率を測定するのに有効な方法である。本研究では原位置岩盤へのTDR法の適用性を明確にする目的で、TDR法による岩盤のプローブの設置方法、設置位置での亀裂の有無、及び設置する岩の温度が、比誘電率測定に及ぼす影響を明らかにするため、明世累層凝灰質粒砂岩、来待凝灰質砂岩、白河溶結凝灰岩及び豊浦標準砂の各供試体に対して、各種設定条件において比誘電率を測定し、体積含水率との関係を求めた。その結果、プローブの設置方法に関しては、3種類の設置方法に関する比較検討を行ってその影響を明らかにした。プローブの設置位置の亀裂については、亀裂の存在が比誘電率測定に影響を及ぼすことが判明した。プローブを設置する岩の温度について、80$$^{circ}$$Cまでの環境では、岩石が乾燥状態

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