Future prospects of neutron reflectometry in Japan

国内における中性子反射率利用の展望

武田 全康  ; 山崎 大  ; 曽山 和彦  ; 鳥飼 直也*

Takeda, Masayasu; Yamazaki, Dai; Soyama, Kazuhiko; Torikai, Naoya*

反射率法は、一般に鏡面あるいはそれに近い表面を持つ物質の厚さ方向に対する数nmから数百nmのスケールの構造変化を非破壊的に調べることのできる測定手段である。反射率法で得られる情報は物質内部に埋もれた界面の構造を含むので、本質的に多層膜構造を持つ磁気デバイスの内部磁気構造や高分子フィルムや生体膜などの構造を非破壊的に測定する手段として、中性子反射率計は理想的な装置である。現在、国内ではつくばの高エネルギー加速器研究機構のパルス中性子源(KENS)に設置されたPORE, ARISAと原子力機構のJRR-3に設置されているLTAS, MINEの計4台の中性子反射率計が稼働中である。しかし、LTASとMINEは反射率計としての稼働時間は少なく、来年(2006年)の3月末でKENSがその使命を終えた後、国内で、常時利用者に開放される中性子反射率計が、実質的に国内には存在しなくなる。そのような中で、来年度初めの本格的な稼働を目指し、現在、JRR-3のC2-2ビームポートに中性子反射率計の整備が進められている。その一方で、JRR-3に目と鼻の先にあるJ-PARCでも水平型中性子反射率計の建設も平行して進められている。本講演では、POREの基本性能を基準とし、JRR-3とJ-PARCの2台の反射率計の性能を見積もり、JRR-3とJ-PARCに設置される反射率計を今後どのように有効利用していくかについての提案を行う。

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