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ガフフィルムとPCスキャナによる簡便なイオンビーム2次元分布測定技術

Easy measurement technique for ion beam fluence 2D distribution using gaf-film and PC-scanner

上松 敬; 花屋 博秋

Agematsu, Takashi; Hanaya, Hiroaki

簡便で高空間分解能なイオンビームの2次元フルエンス相対分布測定を実現するために、ガフクロミックフィルム線量計(HD-810)とパーソナルコンピューター用(PC)スキャナによる測定技術を開発した。まず、校正用に照射したガフフィルムを用いてPCスキャナの特性を調べたところ、LiDE50(Canon社)の場合、R色成分で200Gy程度まで、G成分で500Gy程度まで、B成分で1200Gy程度までの実用的なリニアリティー範囲を確認した。次に、PCスキャナの機種による違いを調べたところ、機種ごとに線量応答は異なるが、PCスキャナの3LED方式とCCD方式による有意な違いは認められないことがわかった。多くのPCスキャナは5ミクロン以下のものを識別できるため、本技術によりこれまで用いられてきた2次元吸光度分布測定が可能な分光光度計よりも、簡便で高空間分解能な測定が可能となった。

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