デジタルオシロスコープによる-陽電子消滅寿命測定

- positron annihilation lifetime measurement by use of digital oscilloscope

平出 哲也  ; 橋 洋平; 谷地 洋也; 鈴木 健訓*

Hirade, Tetsuya; Hashi, Yohei; Yachi, Hironari; Suzuki, Takenori*

陽電子寿命測定にしばしば用いられるNa-22とは異なり、Ge-68は線を放出しない。最近、このGe-68を線源に用いた-同時測定による陽電子寿命測定方法の検討が行われている。陽電子の入射を検出するために、試料と線源の間にアバランシェ・フォトダイオードを配置し、この信号に合わせて511KeVの消滅線を測定することで、ランダム同時計測によるバックグラウンドを大幅に低減できる。アバランシェ・フォトダイオードの検出能力は80%であるため(実測)、最大で80%バックグラウンドを低減できる可能性がある。デジタルオシロスコープを用いて、すべてのイベントの波形を溜め込み、解析することで、約40%のバックグラウンドを削除することに成功した。今後の問題点なども含め、議論する。

Recently, - positron annihilation lifetime measurement has been possible by use of Ge-68 positron emitter and avalanche photo diodes(APD). APD is placed between Ge-68 source and a sample and detecting positrons injecting into the sample. This information is used as a start signal and the stop signal is obtained by detecting one or both of the annihilation -rays. The detection rate of positrons is about 80% and then it is possible to reduce the random coincidence background. We have succeeded to reduce 40% of the background.