検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

Numerical simulation of critical current and n-value in Nb$$_{3}$$Sn strand subjected to bending strain

曲げ歪を受けるNb$$_{3}$$Sn素線の臨界電流値とn値の数値解析

村上 陽之*; 石山 敦士*; 植田 浩史*; 小泉 徳潔; 奥野 清

Murakami, Haruyuki*; Ishiyama, Atsushi*; Ueda, Hiroshi*; Koizumi, Norikiyo; Okuno, Kiyoshi

ITERモデル・コイルでは、導体に加わる電磁力が大きくなるほど、臨界電流値が劣化する現象が観測された。単一素線の臨界電流値の周期的曲げ変形依存性の実験結果をもとにした解析結果から、導体中で素線に周期的に加わる横荷重による素線の曲げ変形が、この原因であると考えられている。他方、単一素線の実験は、一定の条件下のみで行われており一般性に欠けていた。そこで、解析によって、臨界電流値の曲げ変形依存性の統一的評価を試みた。解析結果は、実験結果とよく一致したことから、改良したコードを用いて、臨界電流値の温度依存性,横荷重の周期の影響を調査することができるようになった。その結果、臨界電流値の劣化度は温度に依存し、また、横荷重の周期にかかわらず素線の曲げ歪で整理できることがわかった。

Critical current of ITER mode coil degraded as increase of electromagnetic force. It was shown that the periodic bending of the strand caused this degradation from analysis based on results of experiments in which periodic transverse load is artificially applied to single strand. However, since the experiments were carried out under a certain condition, general relation between transverse load and critical current was not obtained. The authors therefore developed a numerical simulation code. The simulation results are in good agreement with test results. The general dependence of the critical current on temperature and pitch of periodic load is studied using our code. The simulation results reveal that the reduced critical current depends on the temperature and is a function of the bending strain independent of the pitch of the periodic load.

Access

:

- Accesses

InCites™

:

パーセンタイル:30.9

分野:Engineering, Electrical & Electronic

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.