エネルギー分散型X線回折法による構造因子導出の検討,2

Study on structure-factor determination by an energy-dispersive X-ray diffraction method, 2

片山 芳則; 金子 洋; 服部 高典   

Katayama, Yoshinori; Kaneko, Hiroshi; Hattori, Takanori

高圧下のX線回折実験法としては、バックグラウンドを低減でき、なおかつ短時間に測定できる方法としてエネルギー分散法が使われている。しかしこの方法では、回折強度が放射光の強度スペクトル,検出器の感度スペクトル,試料や試料周りの物質の吸収スペクトルなど、エネルギー依存性を持った幾つもの因子の影響を受ける。これらの因子を独立に評価することは難しいため、辻らは、これらの因子の影響を経験的に決め、液体やガラスの構造因子を求める方法を提案した。さらに、舟越らは、その計算をモンテカルロ法によって行うプログラムを開発した。しかしながら、この方法では、低波数のピークの高さに誤差があるなど、不安定さがあった。この方法をさらに改良して、常温常圧の石英ガラスの構造因子を安定に再現できるようになったので、報告する。

Energy-despersive X-ray method is commonly used for X-ray diffraction measurements using a cubic-type multi-anvil-press because low background scattering and short data acquisition time can be achieved. However, diffraction intensity is affected by several energy-dependent factors, such as intensity spectrum of synchrotron radiation, sensitivity spectrum of a detector, absorption spectra of sample and surrounding materials. It is difficult to estimate these factors separately, Tsuji et al., proposed a new empirical method to determine structure factor of liquids and glasses. Furthermore, Funakoshi et al., developed a Monte Carlo simulation code to carry out the procedure. But the result is sometimes unstable. We improved the method and reproduce the structure factor of silica glass stably.