Sn素線の曲げ歪印加時における超電導特性の評価Sn strand subjected to bending strain村上 陽之*; 植田 浩史*; 石山 敦士*; 小泉 徳潔; 奥野 清
Murakami, Haruyuki*; Ueda, Hiroshi*; Ishiyama, Atsushi*; Koizumi, Norikiyo; Okuno, Kiyoshi
ITERモデル・コイルでは、導体に加わる電磁力が大きくなるほど、臨界電流値が劣化する現象が観測された。単一素線の臨界電流値の周期的曲げ変形依存性の実験結果をもとにした解析結果から、導体中で素線に周期的に加わる横荷重による素線の曲げ変形が、この原因であると考えられている。他方、単一素線の実験は、一定の条件下のみで行われており一般性に欠けていた。そこで、解析によって、臨界電流値の曲げ変形依存性の統一的評価を試みた。解析結果は、実験結果とよく一致したことから、改良したコードを用いて、臨界電流値の温度依存性,横荷重の周期の影響を調査することができるようになった。その結果、臨界電流値の劣化度は温度に依存し、また、横荷重の周期にかかわらず素線の曲げ歪で整理できることがわかった。
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使用言語 |
: | Japanese |
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: | 2006/11 |
開催都市 |
: | 熊本 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
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