高エネルギー放射光X線を用いた応力測定の手引き

The Manual of stress measurement using high energy synchrotron radiation

菖蒲 敬久  ; 小西 啓之; 鈴木 賢治*; 柴野 純一*; 秋庭 義明*; 田中 啓介*

Shobu, Takahisa; Konishi, Hiroyuki; Suzuki, Kenji*; Shibano, Junichi*; Akiniwa, Yoshiaki*; Tanaka, Keisuke*

近年、非破壊内部残留応力分布測定手法の1つとして高エネルギー放射光X線による応力測定が注目されている。本手法は、高輝度高エネルギーX線を使用していることからこれまで不可能とされてきた微小領域の表面から内部における応力分布測定を迅速に行うことが可能である。しかしながら取り扱う材料や求める応力分布の範囲により、使用するエネルギーから光学系,検出器,回折面など条件が異なるが、実際にどのようなことを注意してこの条件を検討するのかはあまり明確になっていない。そこで本研究ではこの条件を見つける方法について紹介する。

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