Radiation processes of impurities in detached divertor plasmas of JT-60U

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマにおける不純物の放射過程

仲野 友英; 朝倉 伸幸; 清水 勝宏; 木島 滋; 藤本 加代子; 川島 寿人; 東島 智

Nakano, Tomohide; Asakura, Nobuyuki; Shimizu, Katsuhiro; Konoshima, Shigeru; Fujimoto, Kayoko; Kawashima, Hisato; Higashijima, Satoru

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマにおいて、X点直上の強い放射領域からの9本のC IV発光線を同時測定し、その強度比を衝突放射モデルを用いて解析した。主量子数が4以下の励起準位は基底状態のが電子衝突によって励起され、また主量子数が6以上の励起準位はと電子の体積再結合によって生成される。またこの解析によって、励起過程では電子温度が10eV及び電子密度がと、再結合過程では電子温度が3eVと求められたが、この電子温度の不一致の理由は不明である。これらのパラメータとC IV()とC IV()の絶対強度より、励起過程及び再結合過程による放射パワーを求めると、それぞれ総放射パワーの40%及び0.5%であった。イオンはの再結合との電離によってほぼ等しい割合で生成することも明らかになった。

WeThe intensity ratios of 9 C IV lines from the C IV emission peak were analyzed with a collisional-radiative model. From the analysis, it was found that the lowly-excited levels () were predominantly populated by the excitation from the ground state of by an electron impact with an electron temperature of 10 eV and an electron density of , while the highly-excited levels () by the volume recombination of and an electron with an electron temperature of 3 eV. With these parameters and the absolute intensity of C IV () and C IV () lines, the radiation power due to the excitation and the recombination process were determined to be, respectively, 40% and 0.5% of the total radiation power measured by a bolometer. Further, it was found that the recombination flux was comparable to the ionization flux.