RFQ線形加速器空洞内ビーム引き出しのための高周波特性測定

Measurement of RF properties for beam extraction in an RFQ linac

柏木 啓次; 岡村 昌宏*; 田村 潤*; 高野 淳平*

Kashiwagi, Hirotsugu; Okamura, Masahiro*; Tamura, Jun*; Takano, Jumpei*

直接プラズマ入射法(DPIS)は、レーザープラズマからビームをRFQ線形加速器空洞端部で引き出して入射し、高強度の重イオンビームを生成するためのビーム入射方法である。筆者はビーム加速実験の解析により、ビームを引き出す位置である空洞端部から加速器の収束力が働く電極部までの空間をビームが進行する間にビームが広がることによって、RFQ線形加速器のアクセプタンスとビームのエミッタンスのマッチングが悪化し、加速ビーム電流の低下を引き起こすことを明らかにした。この問題を解決するために、ビーム引き出しをRFQ空洞内部の加速電極先端部で行うことを考案した。この方法では、ビームは引き出された直後にRFQ線形加速器の四重極収束電場に捕獲されるが、加速器空洞内にイオン源のビーム引き出し電極が存在することが、空洞の高周波特性に影響することが懸念される。このため、共振周波数とQ値をネットワークアナライザーで測定した。その結果、影響は無視できる程に小さく、加速器空洞内にビーム引き出し電極を設置できることが明らかになった。

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