CREPT-MCNP 1.1 (Calibration Code for the Representative Point Method with MCNP); User manual, Version 1.1.0

CREPT-MCNP 1.1(代表点法を用いたゲルマニウム半導体検出器の効率校正用コード); ユーザーマニュアル版 1.1.0版

三枝 純

Saegusa, Jun

代表点法は標準点状線源を用いてゲルマニウム半導体検出器の効率校正を精度よく行うための方法である。今回、代表点法を円滑に実施するための計算コードとして、CREPT-MCNP 1.1(()alibration Code for the ()presentative ()oin() Method with MCNP)を整備した。この計算コードには、体積試料の計数効率曲線に等価な計数効率曲線を与える点(代表点)を探索するための機能や、代表点で測定した計数効率に対し自己吸収効果の補正を行う機能などが含まれており、これらの機能を実行することにより目的とする計数効率曲線を得る。評価対象は、p型及びn型Ge半導体検出器により測定可能な、エネルギー範囲が20keVから2MeVの光子である。CREPT-MCNP1.1は、Windows PC環境でGUI形式で動作する。本報は、CREPT-MCNPの機能と使用方法についてとりまとめたものである。

The representative point method is a novel method which enables efficiency calibrations with a standard point source. A calculation code for implementing the method has been developed. The code is named CREPT-MCNP (()alibration Code for the ()presentative ()oin() Method with MCNP). The code estimates the position of the representative point which is intrinsic to each shape of volume sample, and also gives the self-absorption factors to make correction on the efficiencies measured at the representative point with a standard point source. It can deal with photons between 20 keV and 2 MeV with p- or n-type germanium semiconductor detectors. CREPT-MCNP can be operated under the Windows PC environment as a GUI based application. This manual describes features of CREPT-MCNP code.