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IFMIF/EVEDAテストセル系PIE施設検討

Examination of IFMIF/EVEDA test cell system PIE facilities

菊地 孝行; 杉本 昌義; 中村 和幸 ; 若井 栄一 ; Garin, P.*; Molla, J.*

Kikuchi, Takayuki; Sugimoto, Masayoshi; Nakamura, Kazuyuki; Wakai, Eiichi; Garin, P.*; Molla, J.*

IFMIF/EVEDAでは概念設計で検討された照射後試験項目を実施できる照射後試験(PIE)施設の詳細設計を行う。今回予備的作業として実施したハード面での設備機器検討項目の洗い出し、設計境界(取合い)条件に加え、これまで未検討の照射済試料の再装荷,施設の除染作業を含むメンテナンス等を考慮したエリア区分,廃棄物の搬出ルート確保,PIEセル内での機器故障時の線源回収方法等の現状を報告する。

Post irradiation examination (PIE) facilities where the examination item is enforceable after it irradiates it being examined by the conceptual design are designed in detail in IFMIF/EVEDA. It reports on the examination situation in the current state this time.

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