ERL高輝度電子銃ビーム診断のための偏向空洞の特性

Deflecting cavity for beam diagnostics of an ERL gun

西森 信行; 永井 良治; 飯島 北斗; 羽島 良一; 沢村 勝; 本田 洋介*; 武藤 俊哉*

Nishimori, Nobuyuki; Nagai, Ryoji; Iijima, Hokuto; Hajima, Ryoichi; Sawamura, Masaru; Honda, Yosuke*; Muto, Toshiya*

エネルギー回収型リニアック(ERL)による次世代放射光源のための電子銃開発を行っている。平均電流10100mA,規格化エミッタンス0.11mm-mradの高輝度高電流電子ビーム生成を最終目標とし、NEA半導体を光陰極としたDC電子銃のプロトタイプを開発中である。エネルギー250keV,バンチ電荷77pC,バンチ長20ps FWHM,繰り返し周波数83.3MHzの電子ビーム生成を当面の目標に据えている。この電子ミクロバンチ長測定のため、偏向空洞とスクリーン(又はスリット)を用いたビーム診断システムの開発を行っている。偏向空洞は499.8MHzの同軸型である。250keVの電子ビームを3.5keVキックするのに(14mrad)必要なRFパワーの計算値は185Wで、手持ちの400W RF電源の範囲内である。400WのRF投入テストを行ったところ、チューナーと内軸導体の距離が近すぎて、RFが安定にかからないことがわかった。チューナーを遠ざけるための空洞の加工を予定している。開発状況について報告する。

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