高速炭素クラスターイオンにおける薄膜透過後の平均電荷とその入射配向依存性

Average charge and its projectile orientation dependence of fragment ions passing through a thin foil with a swift carbon cluster

千葉 敦也; 齋藤 勇一; 鳴海 一雅; 阿達 正浩; 山田 圭介; 高橋 康之; 金子 敏明*

Chiba, Atsuya; Saito, Yuichi; Narumi, Kazumasa; Adachi, Masahiro; Yamada, Keisuke; Takahashi, Yasuyuki; Kaneko, Toshiaki*

MeV領域のエネルギーを持つ重イオンクラスターと物質との衝突反応機構の解明に向け、薄膜を透過したクラスター解離イオンの電荷と薄膜入射時のクラスター構成イオンの空間配置との関係を調べている。今回は、薄膜(1g/cm)を透過したC(6MeV)の解離イオンの発散角と電荷の同時測定を試みた。解離した2つのイオンの電荷の組合せごとの発散角強度分布を粒子軌道計算で再現することにより、膜内での解離イオンの軌道を算出し、Cの入射配向と発散角を対応づけることで、解離イオンの平均電荷と入射配向の関係を得た。その結果、入射配向が膜面に対して鋭角なほど解離イオンの平均電荷は大きくなる傾向にあることを実験により初めて明らかにした。

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