陽電子マイクロビーム装置の高性能化

Development of a pulsed positron microbeam

前川 雅樹; 河裾 厚男

Maekawa, Masaki; Kawasuso, Atsuo

われわれのグループでは、これまでに陽電子マイクロビーム装置の開発を行ってきた。現在の装置ではドップラー幅広がり測定が可能である。空孔に関するさらに多くの情報を収集するためには、陽電子寿命計測を行う必要がある。そこで既存のビームラインに挿入して使用するユニット型の陽電子ビームパルス化装置を開発した。これは同軸円筒型プリバンチャー,偏向型チョッパー,空洞共振器型バンチャーから構成されている。実際にパルス化装置を動作させたところ、140psのパルス幅を持つビームが形成できること、寿命測定が可能であることが確認された。

We have developed the positron microbeam apparatus. With the present equipment, the Doppler broadening measurement is possible. In order to collect more information about vacancy-type defects, it is necessary to perform positron annihilation lifetime spectroscopy measurement. For this purpose, the beam pulsing section inserting in the existing beam line was developed. This consists of a coaxial cylinder type pre-buncher, a deflection type chopper, and a resonator type buncher. When pulsing system was operated, it was confirmed that a pulsed beam with the pulse width of 140ps can be formed and that PALS measurement is possible.