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XFELにおける生体分子損傷の原子過程,3; 損傷を伴う構造因子計算

Study of atomic processes of the damage of bio-molecules caused by XFEL, 3; Structure factor calculation including the damage

森林 健悟

Moribayashi, Kengo

X線自由電子レーザー(XFEL)の利用研究の1つとしてタンパク質などの1個の生体分子のX線による立体構造解析がある。XFELの場合、従来のX線源よりもX線の数が非常に大きいため、生体分子の損傷の影響が大きいと考えられている。生体分子の損傷は、構造解析のノイズとして現れる。本講演では、小さな分子アラニン(CH$$_3$$CHCOOHNH$$_2$$)を標的として10$$^{20}$$-10$$^{22}$$/pulse/mm$$^2$$のX線フラックスに対して(1)原子過程による電荷数の変化の時間発展を計算し、(2)各電子状態の原子散乱因子を用いて、各時間の構造因子を計算し、(3)それを時間で積分して回折像の強度の計算を行い、損傷の回折像への影響を調べた結果を報告する。

no abstracts in English

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