High-energy ion irradiation effects on atomic structures and optical properties of copper oxide and electronic sputtering

銅酸化物における原子配列構造と光学特性に及ぼす高エネルギーイオン照射効果と電子的スパッタリング

Matsunami, Noriaki*; Sataka, Masao; Okayasu, Satoru; Ishikawa, Norito; Tazawa, Masato*; Kakiuchida, Hiroshi*

100MeV Xeイオン照射したCu $_{2}$ O薄膜において、X線回折強度が減少する挙動を解析した。光学特性測定においては、照射によるバンドギャップの変化が検知されなかった。Cu $_{2}$ Oにおいてはアモルファス化を起こさずに乱れが導入されることがわかった。

Irradiation effects of Cu $_{2}$ O irradiated with 100 MeV Xe ions were studied. X-ray diffraction intensity and optical properties were analyzed.

使用言語	:	English
掲載資料名	:	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B
巻	:	266
号	:	12-13
ページ数	:	p.2986 - 2989
発行年月	:	2008/06
発表会議名	:	14th International Conference on Radiation Effects in Insulators (REI-14)
開催年月	:	2007/08
開催都市	:	Caen
開催国	:	France
キーワード	:	no keyword

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:	https://doi.org/10.1016/j.nimb.2008.03.183
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:	タンデム加速器
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:	名古屋大学

Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:	パーセンタイル：50.37 分野：Instruments & Instrumentation
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登録番号 : BB20084018
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 10642

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