Diagnostics of JT-60U divertor plasmas by Stark-Doppler broadening of carbon spectral lines

炭素スペクトル線のシュタルク・ドップラー拡がりによるJT-60Uダイバータプラズマの診断

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Godbert-Mouret, L.*; Marandet, Y.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

Koubiti, M.*; Nakano, Tomohide; Godbert-Mouret, L.*; Marandet, Y.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマから放射されるC IV(=6-7)スペクトル線を高波長分解能可視分光器で測定し、そのスペクトル形状をPPPコードにより解析した。解析の結果、スペクトル線形状はドップラー効果とシュタルク効果の影響を受けることがわかった。それぞれの効果の大きさを評価することによりイオン温度(=電子温度)と電子密度を決定することに成功した。X点を貫く視野で決定された電子密度と電子温度はそれぞれ3eV及びであり、これらはC IVスペクトル線の強度比より定められた電子温度(6.3eV)と電子密度()に近い。これらの結果から独立した方法によりX点付近に高密度プラズマが形成されることが明らかにされた。

The C IV ( = 6-7) spectral lines emitted from the JT-60U detached plasmas were observed with a high-wavelength resolution spectrometer and the profiles were analyzed with a PPP code. The analysis indicates that the spectral profiles were broadened with both the Doppler and the Stark effects. From these effects, the electron temperature and density were evaluated. Along the viewing chord for the X-point, the electron temperature and density was determined to be 3 eV and , respectively. These are similar to those determined from the intensity ratio of C IV lines (6.3 eV and , respectively). The high density plasma around the X-point was confirmed with these independent methods.