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論文

Spatial characterization of a divertor in the presence of an X-point MARFE by collisional-radiative modeling and line profile calculations

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Marandet, Y.*; Mekkaoui, A.*; Mouret, L.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

Journal of Nuclear Materials, 438, p.S599 - S601, 2013/07

 被引用回数:4 パーセンタイル:25.73(Materials Science, Multidisciplinary)

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマから放射されるC IV(n=6-7)スペクトル線を高波長分解能可視分光器で測定し、そのスペクトル形状をPPPコードで解析した。以前の解析では、一組の電子密度と電子温度からPPPコードによって計算されたスペクトル形状と測定されたスペクトル形状を比較していた。この方法ではX点MARFEの周辺部では測定されたスペクトルをよく再現することができたが、X点MARFEの中心部では良い再現 が得られなかった。今回の解析では二組の電子密度と電子温度からPPPコードによって計算されたスペクトルを足し合わせることによって、測定されたスペクトルの再現に成功した。このときの電子密度と電子温度の組合せは、それぞれ、1$$times$$10$$^{20}$$ m$$^{-3}$$と23.0eV及び6$$times$$10$$^{20}$$ m$$^{-3}$$と2.5eVであり、それらの割合は65:35であった。

論文

Characterization of the JT-60U divertor plasma region during the formation of a strong radiation

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Capes, H.*; Marandet, Y.*; Mekkaoui, A.*; Mouret, L.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

Contributions to Plasma Physics, 52(5-6), p.455 - 459, 2012/06

 被引用回数:4 パーセンタイル:17.72(Physics, Fluids & Plasmas)

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマから放射されるC IV($$n$$=6-7)スペクトル線を高波長分解能可視分光器で測定し、そのスペクトル形状をPPPコードで解析した。以前の解析では、一組の電子密度と電子温度からPPPコードによって計算されたスペクトル形状と測定されたスペクトル形状を比較していた。この方法ではX点MARFEの周辺部では測定されたスペクトルをよく再現することができたが、X点MARFEの中心部では良い再現が得られなかった。今回の解析では二組の電子密度と電子温度からPPPコードによって計算されたスペクトルを足しあわせることによって、測定されたスペクトルの再現に成功した。このときの電子密度と電子温度の組合せは、それぞれ、1$$times$$10$$^{20}$$ m$$^{-3}$$と23.0eV及び6$$times$$10$$^{20}$$ m$$^{-3}$$と2.5eVであり、それらの割合は65:35であった。

論文

Diagnostics of JT-60U divertor plasmas by Stark-Doppler broadening of carbon spectral lines

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Godbert-Mouret, L.*; Marandet, Y.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

Journal of Nuclear Materials, 415(Suppl.1), p.S1151 - S1154, 2011/08

 被引用回数:4 パーセンタイル:32.59(Materials Science, Multidisciplinary)

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマから放射されるC IV($$n$$=6-7)スペクトル線を高波長分解能可視分光器で測定し、そのスペクトル形状をPPPコードにより解析した。解析の結果、スペクトル線形状はドップラー効果とシュタルク効果の影響を受けることがわかった。それぞれの効果の大きさを評価することによりイオン温度(=電子温度)と電子密度を決定することに成功した。X点を貫く視野で決定された電子密度と電子温度はそれぞれ3eV及び$$7times10^{20}mbox{m}^{-3}$$であり、これらはC IVスペクトル線の強度比より定められた電子温度(6.3eV)と電子密度($$7.8times10^{20}mbox{m}^{-3}$$)に近い。これらの結果から独立した方法によりX点付近に高密度プラズマが形成されることが明らかにされた。

論文

Diagnostics of tokamak divertor plasmas by Stark broadening of impurity emission lines

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Capes, H.*; Marandet, Y.*; Mouret, L.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

Proceedings of 37th European Physical Society Conference on Plasma Physics (EPS 2010) (CD-ROM), 4 Pages, 2010/06

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマから放射されるC IV(n=6-7)スペクトル線を高波長分解可視分光器で測定し、そのスペクトル形状をPPPコードにより解析した。解析の結果、スペクトル線形状はドップラー効果とシュタルク効果の影響を受けることがわかった。それぞれの効果の大きさを評価することによりイオン温度(=電子温度)と電子密度を決定することに成功した。X点を貫く視線に対して決定された電子温度と電子密度はそれぞれ3eVと7$$times$$10$$^{20}$$m$$^{-3}$$であり、これらはC IVスペクトル線の強度比より定められた電子温度(6.3eV)と電子密度(7.8$$times$$10$$^{20}$$m$$^{-3}$$)に近い。これらの結果から独立した方法によりX点付近に高密度プラズマが形成されることが明らかにされた。

論文

Investigation of C IV line broadening mechanisms for plasma diagnostics in magnetic fusion devices

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Capes, H.*; Ferri, S.*; Godbert-Mouret, L.*; Marandet, Y.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

Journal of Nuclear Materials, 390-391, p.1142 - 1144, 2009/06

 被引用回数:3 パーセンタイル:24.52(Materials Science, Multidisciplinary)

トカマク装置の非接触ダイバータプラズマにおいてX点付近の強い放射領域では、リチウム様炭素イオンのスペクトル線の強度比を解析することにより、電子密度が10$$^{22}$$m$$^{-3}$$、電子温度が1-10eVと測定されたことが報告されている。この高い電子密度を確認するためにスペクトル線の拡がりを解析することを提案した。ここではリチウム様炭素イオンのスペクトル線C IV($$n$$=6-7:$$lambda$$=772.6nm)の拡がりを独自に改良したPPPコードを用いたシミュレーションにより計算した。上記の温度と密度の範囲では温度によるドップラー拡がりと密度によるシュタルク拡がりがスペクトル線の拡がりに同程度寄与することがわかった。よって、この解析によって温度と密度を同時に定めることも可能であるが、精度の観点からは独立した計測によりこれらのパラメータを検証すべきである。

論文

Broadening of lithium-like carbon spectral lines emitted in tokamak plasmas

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Capes, H.*; Marandet, Y.*; Mouret, L.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

Europhysics Conference Abstracts (CD-ROM), 31F, 4 Pages, 2007/00

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマで高波長分解能分光器によって観測されたC IV(n=6-7)のスペクトル形状は裾野がなだらかに広く拡がり、ドップラー拡がりに対応するガウス型関数ではよく再現されなかった。拡がりの形状,高い電子密度、及び高励起状態からの発光線であることから、この拡がりの要因は上記のドップラー効果に加えてシュタルク効果であると考えられる。このスペクトル線の形状を解析するために、シュタルク効果を取り入れたコードを開発した。このコードに必要な基礎的な原子構造データはCOWANコードにより計算された。この解析により、ドップラー拡がりから温度が、シュタルク拡がりから密度が同時に定められる。

口頭

On the use of spectral lines emitted by carbon ions for plasma diagnostics in magnetic fusion devices

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Ferri, S.*; Godbert-Mouret, L.*; Marandet, Y.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

no journal, , 

トカマク装置の非接触ダイバータプラズマにおいてX点付近の強い放射領域では、リチウム様炭素イオンのスペクトル線の強度比を解析することにより、電子密度が$$10^{22} m^{-3}$$、電子温度が1-10eVと測定されたことが報告されている。この高い電子密度を確認するためにスペクトル線の拡がりを解析することを提案した。ここではリチウム様炭素イオンのスペクトル線C IV n=5-6($$lambda$$=465.8nm)とC IV n=6-7($$lambda$$=772.6nm)の拡がりを独自に改良したPPPコードによりシミュレーションにより計算した。上記の温度と密度の範囲では温度によるドップラー拡がりと密度によるシュタルク拡がりがスペクトル線の拡がりに同程度寄与することがわかった。よって、この解析によって温度と密度を同時に定めることも可能であるが、精度の観点からは独立した計測によりこれらのパラメータを検証すべきである。

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