検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

「分析展2010/科学機器展2010」見聞記

"JAIMA EXPO 2010/SIS 2010" record of personal experiences

吉田 裕美*; 駿河谷 直樹 

Yoshida, Yumi*; Surugaya, Naoki

本稿は、2010年、9月1-3日に幕張メッセで開催された「分析展2010/科学機器展2010」の取材結果を報告するものである。

This article reports a coverage result of "JAIMA EXPO 2010/SIS 2010" held at Makuhari Messe on September 1-3, 2010.

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.