JT-60SAトムソン散乱計測におけるその場相対較正法の検討

In-situ relative calibration method for a JT-60SA Thomson scattering measurement

東條 寛; 波多江 仰紀; 伊丹 潔

Tojo, Hiroshi; Hatae, Takaki; Itami, Kiyoshi

JT-60SAトムソン散乱計測においては、厳しい放射線環境による光学部品(レンズ,ミラー,光ファイバー)の透過率変化が電子温度の精度に悪影響をもたらす。特に短波長の透過率損失は高電子温度が低く見積もられる系統誤差を発生させる。著者らは、散乱光スペクトルの散乱角依存性に着目し、1種類の計測レーザーをプラズマ中に往復させるダブルパス散乱において、各レーザーパスの散乱スペクトル比を求めることで、透過率損失とは独立に電子温度を求める手法を新たに考案した。また、決定した電子温度から散乱光スペクトルが確定することを利用して、透過率損失をも求めることも可能である。JT-60SAにおけるトムソン散乱計測の設計パラメータ(第一パスでは散乱角は140.2度)の下、放射線を照射された光ファイバー透過率変化(短波長領域の損失)を仮定した場合でも、電子温度は系統誤差1%未満、統計誤差は5%以下で評価できることを明らかにした。また、分光チャネルの透過率減衰も系統誤差はほとんど無視でき、長波長成分を計測するチャネルを除き、10%未満の統計誤差で求まることを明らかにした。

no abstracts in English