負イオンビームを用いた高エネルギービームプロファイル診断,2

High energy beam profile diagnostics by using a negative ion probe beam, 2

神藤 勝啓  ; 和田 元*; 西田 睦聡*; 出村 康拡*; 佐々木 大地*; 津守 克嘉*; 木崎 雅志*; 西浦 正樹*; 金子 修*; 笹尾 眞實子*

Shinto, Katsuhiro; Wada, Motoi*; Nishida, Tomoaki*; Demura, Yasuhiro*; Sasaki, Daichi*; Tsumori, Katsuyoshi*; Kisaki, Masashi*; Nishiura, Masaki*; Kaneko, Osamu*; Sasao, Mamiko*

現在計画中のIFMIF(国際核融合材料照射施設)で用いられる大強度重陽子加速器などのビーム診断は、高放射線環境下で行われることが予想される。前回、ビームプロファイル測定の新しいツールとして、負イオンビームプローブ法を提案した。負イオンビームを正イオンビームに対して垂直に入射して、ビーム同士の相互作用による負イオンビームの荷電交換及び散乱を観測することで、正イオンビームプロファイルを診断する。この原理検証実験を行うために、平成21年度までにプローブ用Hイオン源を設計・製作してきた。平成22年度は、同志社大学でテストベンチを立ち上げてHイオン源より引き出されたビーム品質の測定を行った。その後、イオン源を核融合科学研究所に搬送して、総合工学実験棟NBIテストスタンドで行われてきた大強度強集束Heイオン源より引き出されたビームを用いた原理検証実験を行うための準備を行っている。イオン源より引き出されたHビームはHeビームと交差後、荷電変換によりH及びHの混合ビームとなるため、静電分離型粒子検出器を通して、アルミナ蛍光板(デマルケストAF995R)からの発光強度より、プロファイルを調べる。本発表では、この準備状況,今後の予定を報告する。

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