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PADC飛跡検出器を用いた後方散乱粒子による高強度イオンビーム特性簡易診断法

A New simple diagnosis method for intense ion beam utilizing back scattered particles with PADC track detectors

金崎 真聡; 山内 知也*; 福田 祐仁; 榊 泰直; 堀 利彦*; 反保 元伸; 近藤 公伯; 倉島 俊; 神谷 富裕

Kanasaki, Masato; Yamauchi, Tomoya*; Fukuda, Yuji; Sakaki, Hironao; Hori, Toshihiko*; Tampo, Motonobu; Kondo, Kiminori; Kurashima, Satoshi; Kamiya, Tomihiro

PADC飛跡検出器を用いた後方散乱粒子による高強度高エネルギーイオンビーム診断法を開発した。PADC検出器では検出不可能な100MeVのHeイオンを適切な散乱体の上に置いたPADCフィルムに照射した。解析を行ったところ、PADCの散乱体に接している面に形成されたエッチピットが、後方散乱による粒子が形成したものであると確認された。レーザー駆動粒子線実験のような電子線やX線などが混在する複雑な放射線場における幅広いエネルギーレンジに対応したイオンビーム診断を後方散乱粒子を利用することで可能にした。

A diagnosis method has been developed utilizing back scattered particles with the single PADC detector for high energy intense ion beams. The PADC detector mounted on the uniform back-scatterer was irradiated with He ions with an energy of 100 MeV, which is never recorded as etchable tracks in PADC. It turns out that most of etch pits in the rear surface are made by the back-scattered particles through the investigation of the growth pattern of each etch pit. This method allows simple diagnosis of the ion beam profile and intensity distribution with wide energy range in mixed radiation fields such as laser-driven ion acceleration experiments.

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