粒子線によるDNA損傷,5; 二次電子の運動と水分子の電離の空間分布の関係

DNA damage due to the irradiation of particles, 5; The Relationship between the movement of secondary electrons and the spatial distribution of ionization of water molecules

森林 健悟

Moribayashi, Kengo

重粒子線が細胞に照射されると衝突電離で生じた水イオンの電場で二次電子が粒子線の軌道付近にトラップされることを以前、明らかにした。それを踏まえて本発表では二次電子がトラップされる場合とトラップされない(自由電子として取り扱う)場合とで二次電子の衝突により電離する水分子の空間分布がどのように変わるかを計算した結果を示す。計算結果ではトラップを考慮すると粒子線の軌道から半径0.5nm付近において水分子の電離の割合が4倍程度増えた。これは、クラスターDNA損傷のシミュレーションにおいて二次電子の電場によるトラップを考慮する必要があることを示唆した結果である。

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