Development of dual-beam system using an electrostatic accelerator for in-situ observation of swift heavy ion irradiation effects on materials

高速重イオン照射効果のその場測定のための単一加速器によるデュアルビーム加速技術の開発

Matsuda, Makoto; Asozu, Takuhiro; Sataka, Masao; Iwase, Akihiro*

1台の大型静電加速器により異なる2種類のイオンビームを同時に加速し、標的の同一箇所に照射するデュアルビームシステムを開発した。デュアルビームの加速には、高電圧端子内にECRイオン源を搭載した20MVのタンデム加速器を用いる。ECRイオン源で複数の元素の多価イオンを同時に生成し、質量電荷比の同じイオンを引き出し加速することで、デュアルビーム照射を実現する。このデュアルビームシステムを用いて、165MeVの $^{132}$ Xe $^{11+}$ イオンと15MeVの $^{12}$ C $^{+}$ イオンとを同時照射することで、XeイオンによるBi-Al $_{2}$ O $_{3}$ 標的の重イオン照射効果を、Cイオンをプローブにしたラザフォード後方散乱分析法によりリアルタイムに測定することに成功した。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B
巻	:	314
号	:
ページ数	:	p.43 - 46
発行年月	:	2013/11
発表会議名	:	8th International Symposium on Swift Heavy Ions in Matter (SHIM 2012)
開催年月	:	2012/10
開催都市	:	Kyoto
開催国	:	Japan
キーワード	:	no keyword

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:	https://doi.org/10.1016/j.nimb.2013.05.034
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:	タンデム加速器
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:

Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:	パーセンタイル：0.01 分野：Instruments & Instrumentation
Altmetrics	:

登録番号 : BB20122258
抄録集掲載番号 : 41001420
論文投稿番号 : 13415

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