検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

光周波数コム干渉計による瞬時プラズマ電子密度計測法

A New method for instantaneous plasma electron density measurement using optical frequency comb interferometer

荒川 弘之; 河野 康則; 東條 寛; 笹尾 一; 伊丹 潔

Arakawa, Hiroyuki; Kawano, Yasunori; Tojo, Hiroshi; Sasao, Hajime; Itami, Kiyoshi

大型核融合実験装置や将来の核融合発電炉では、長時間安定したプラズマ電子密度計測が必要となる。本研究では、近年産業界や計測標準分野において開発が進められている光周波数コムレーザーを用いた干渉計に着目し、データ欠損に耐性のあるプラズマ電子密度計測法の提案を行う。本干渉計を用いた電子密度計測は、既存の手法では不可能であった瞬時計測も可能であり、核融合プラズマ以外のプラズマ電子密度計測への適用も期待できる。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.