JT-60SAにおけるトムソン散乱計測の開発

Development of Thomson scattering diagnostics in JT-60SA

東條 寛; 波多江 仰紀; 佐久間 猛; 濱野 隆; 伊丹 潔; 江尻 晶*; 平塚 淳一*; 山口 隆史*; 高瀬 雄一*

Tojo, Hiroshi; Hatae, Takaki; Sakuma, Takeshi; Hamano, Takashi; Itami, Kiyoshi; Ejiri, Akira*; Hiratsuka, Junichi*; Yamaguchi, Takashi*; Takase, Yuichi*

JT-60SAでの電子温度と電子密度はトムソン散乱計測によって計測される。YAGレーザー(約3 J)を赤道面上でトロイダル接線方向に入射させ、複数の集光光学系を利用することによって、プラズマ径方向全域の分布計測が可能となる。しかし、従来のプラズマ中心部計測用集光光学系の設計は、直径400mmの大型レンズを9枚組合せたものであり、製作が困難なことが判明した。製作が容易な小型(直径200mm)の高屈折率材質レンズを3枚組合せることで、集光効率が同等となる新たな光学系を考案した。JT-60SAでは厳しい放射線環境による光学部品の劣化から、透過率変化が起き、電子温度の誤評価を招く問題点がある。本発表では、ダブルパス散乱計測を用いた透過率変化に影響されない電子温度評価手法とその原理実証実験結果についても報告する。さらに、集光光学系を収納するポートプラグに設置予定のシャッターやヒートシンクの構造についても報告を行う。

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