JT-60SAにおける接線入射レーザー干渉・偏光計による線積分プラズマ電子密度計測法の開発

Development of line integrated plasma electron density measurements in tangential interferometer/polarimeter system on JT-60SA

荒川 弘之; 笹尾 一; 東條 寛; 河野 康則; 伊丹 潔

Arakawa, Hiroyuki; Sasao, Hajime; Tojo, Hiroshi; Kawano, Yasunori; Itami, Kiyoshi

JT-60SAのプラズマ生成制御では、長時間(約100秒)に渡り高精度な電子密度データをリアルタイムで計測することが必要不可欠である。このため、JT-60SAにおいては、実績のあるJT-60Uでの接線入射レーザー干渉・偏光計システムを基本としつつ、より安定な計測システムを開発中である。本発表では、開発中のJT-60SAにおける干渉・偏光計測システムの概要と、JT-60Uの計測データを用いて開発したエラー補正法を示す。この他、既存のシステムに依存しない、より安定な計測システムについての検討結果である、3つの異なる波長のレーザーを用いた手法や、光周波数コムレーザーを用いた手法についても発表する。

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