Effect of helium on irradiation creep behavior of B-doped F82H irradiated in HFIR

中性子にて照射されたボロン添加F82H鋼の照射下クリープに及ぼすヘリウム効果

安堂 正己; 野澤 貴史; 廣瀬 貴規; 谷川 博康; 若井 栄一  ; Stoller, R. E.*; Myers, J.*

Ando, Masami; Nozawa, Takashi; Hirose, Takanori; Tanigawa, Hiroyasu; Wakai, Eiichi; Stoller, R. E.*; Myers, J.*

照射下クリープに及ぼすヘリウムの影響を調べるために、F82H鋼およびボロン添加したF82H鋼の圧力管を準備し、573Kおよび673Kにて6dpaまでの中性子照射を行った。照射後、これらの圧力管の径を非接触型レーザーシステムにて測定し、クリープひずみの解析を行った。この結果、573K, 673Kにて照射されたF82H鋼のクリープひずみは約260MPaおよび170MPaの応力までそれぞれ直線的に増加することがわかった。特に673K照射材では、いくらかのBN添加F82H鋼のクリープひずみは、ヘリウムの発生しないBN添加F82H鋼に比べて増加する傾向にあった。この原因として、ボロンによって発生したヘリウムによりバブルが形成し、わずかなスウェリングが生じたためと考えられる。

Pressurized tubes of F82H and B-doped F82H irradiated at 573 and 673 K up to 6dpa have been measured by a laser profilometer. The irradiation creep strain in F82H irradiated at 573 and 673 K was almost linearly dependent on the effective stress level for stresses below 260 MPa and 170 MPa, respectively. The creep strain of BN-F82H was similar to that of F82H IEA at each effective stress level except 294 MPa at 573 K irradiation. For 673 K irradiation, the creep strain of some BN-F82H tubes was larger than that of F82H tubes. It is suggested that a swelling caused in each BN-F82H because small helium babbles might be produced by a reaction of B(n, ) Li.