本誌は化学者向けの結晶学の教科書であり、X線結晶構造解析の原理に加えて単結晶、粉末X線回折データからの構造解析法、中性子を用いた回折測定と構造解析法、薄膜を用いた構造解析法を網羅している。中性子結晶学の専門家として、中性子回折に関する章を担当し、定常中性子およびパルス中性子の原理、X線と中性子の違い、国内における単結晶中性子回折計、単結晶中性子回折データを用いた構造解析法、更には中性子回折実験の申請法について解説する。
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使用言語 |
: | Japanese |
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掲載資料名 |
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ページ数 |
: | p.198 - 224 |
発行年月 |
: | 2015/11 |
キーワード |
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論文解説記事 |
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