全反射X線光電子分光法による超微量Na, Rb, Csの吸着状態解析

Analysis of adsorption states for ultra-trace Na, Rb and Cs studied by total-reflection XPS

Baba, Yuji; Shimoyama, Iwao; Hirao, Norie

酸化物(SiO $_{2}$ , Al $_{2}$ O $_{3}$ )や層状酸化物(マイカ)などに吸着した放射性Csの化学結合状態を明らかにするため、 $^{137}$ Csの原子数に相当する超微量Csおよび他のアルカリ金属(Na, Rb)について、放射光を用いた全反射X線光電子分光(TR-XPS)測定を行った。TR-XPSにより1/1000層(1cm $^{2}$ あたり約200Bqの $^{137}$ Csに相当)までの超微量CsのXPS測定が可能であった。XPSの内殻結合エネルギーシフトと吸着量の関係を調べた結果、超微量になるほどCsの内殻結合エネルギーは低エネルギー側に、Naは反対に高エネルギー側にシフトした。これらのXPS化学シフトを点電荷モデルで解析した結果、マイカに吸着したCsおよびNaは、超微量になるとイオン結合性が強い状態で吸着していることがわかった。

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使用言語	:	Japanese
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発表会議名	:	2015年度量子ビームサイエンスフェスタ; 第7回MLFシンポジウム/第33回PFシンポジウム
開催年月	:	2016/03
開催都市	:	つくば
開催国	:	日本
キーワード	:	セシウム; X線光電子分光法; 全反射; 放射光

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