Kerisit, S.*; 奥村 雅彦 
; Rosso, K. M.*; 町田 昌彦
Kerisit, S.*; Okumura, Masahiko; Rosso, K. M.*; Machida, Masahiko
層状珪酸塩鉱物の基盤表面におけるセシウムの吸着特性について、分子動力学法を用いて系統的に評価した。層電荷と八面体構造の組み合わせにより計6種類の層状珪酸塩鉱物について評価を行い、層電荷の大きさが大きいほど吸着が強く、また、八面体構造の違いに起因する基盤表面のシリコン及びアルミニウムの微細な配置の違いが吸着の強さに影響を与えることがわかった。
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使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 64 |
号 |
: | 4 |
ページ数 |
: | p.389 - 400 |
発行年月 |
: | 2016/08 |
キーワード |
: | 福島第一原子力発電所事故; 放射性セシウム; 粘土鉱物; 分子動力学; Fukushima Daiichi Nuclear Power Station Accident |
論文URL |
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使用施設 |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：74.44 分野：Chemistry, Physical |
Altmetrics |
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