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走査型X線分析顕微鏡と画像処理・解析ソフトウェアを用いたモード測定

Modal analysis using scanning X-ray analytical microscope and image processing and analyzing softwares

植木 忠正; 丹羽 正和  

Ueki, Tadamasa; Niwa, Masakazu

従来のポイントカウンティング法によるモード測定は時間がかかり、測定者の鉱物判別の技量や主観によって結果が左右されるという課題がある。本研究では、より容易で測定者の技量や主観によらない新たなモード測定の手法として、走査型X線分析顕微鏡と画像処理・解析ソフトウェアを用いた手法を紹介する。この手法によって薄片または研磨片の測定を行うことで、花崗岩質岩の鉱物分布図とモード組成を迅速かつ効率的に取得することが可能となった。

Conventional point counting method for modal analysis is time-consuming, and often affected by measurer's skill and subjective view on the determination of minerals. We introduce the alternate method using scanning X-ray analytical microscope and image processing and analyzing softwares. This method is simple and not affected by measurer's skill and subjective view. By using this method for thin sections or polished slabs of granitic rocks, we provided clear images showing mineral distributions and obtained objective data of modal compositions efficiently and quickly.

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