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Electron and core-hole dynamics probed by Auger electron spectroscopy

オージェ電子分光により明らかにされる電子内殻正孔ダイナミクス

池浦 広美*; 関口 哲弘  

Ikeura, Hiromi*; Sekiguchi, Tetsuhiro

放射光X線を使ったX線吸収端近傍構造(NEXAFS)法、深い内殻の共鳴オージェ電子分光法、内殻正孔時計法を用いた 超高速電子移動の動的計測による薄膜評価法に関する報告である。デオキシリボース核酸鎖状分子及びリン酸分子を例として挙げ、放射光X線励起オージェスペクトルの測定データの解析により固体材料の伝導帯における高速電子移動の実時間が評価されることを示した。

Femo and atto second electron dynamics through unoccupied conduction band in organic electronic materials can be probed by Auger spectroscopy (RAS). In this method, RAS spectra are interpreted based on two competing decay channels: core-hole decay and core-excited resonant electron delocalization. Recent progress in our understanding of previous data, we found that maximum energies in P K-edge X-ray absorption spectra (XAS) measured by Auger electron yields are different between spectator Auger (SA) and normal Auger (NA) for phosphate groups in DNA and nucleotides. This can be explained by core excitation binding energy shifts for the localized state corresponding to SA.

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