二次元蛍光イメージングXAFSによるガラス固化試料の化学状態分布

Chemical bonding profile of vitrified sample by two dimensional fluorescence imaging XAFS

谷田 肇  ; 岡本 芳浩  ; 永井 崇之  

Tanida, Hajime; Okamoto, Yoshihiro; Nagai, Takayuki

ガラス固化体を長期間安定に保つために、放射性元素が析出しないようにする必要があり、その化学状態の分布を評価することは極めて重要である。ここでは、透過法では測定が難しい比較的低エネルギーに吸収端を持つ元素について、二次元蛍光イメージングXAFS法を用いて、その価数分布の評価を試みた。マイクロビームによる蛍光X線マッピングより、広範囲を高速に評価することを目的としている。

In order to keep the vitrified glass products stable for a long period of time, it is necessary to prevent the precipitation of radioactive elements, and it is very important to evaluate the chemical state distribution of the elements. In this study, two-dimensional fluorescence imaging XAFS was used to evaluate the valence distribution of elements with relatively low energy absorption edges, which is difficult to measure by the transmission method. The aim of this method is to evaluate the wide range of valence distribution more rapidly than microbeam X-ray fluorescence mapping.