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ピンホールカメラを利用した蛍光XAFSイメージング法の開発

Development of fluorescence XAFS imaging using pinhole camera

谷田 肇; 岡本 芳浩

Tanida, Hajime; Okamoto, Yoshihiro

X線CCD検出器を用いた二次元イメージングXAFS法は、比較的高エネルギーに吸収端を持つ重元素に対して透過法が適用されてきた。透過法は試料を最適な厚みにする必要があるが、透過能の大きい高エネルギーX線を用いる場合は、比較的厚い試料に対して容易に測定できる。ここでは、比較的低エネルギー領域にX線の吸収端を持つ遷移金属元素を対象とし、ガラス材料などの薄くすることが難しい試料中での価数分布を高速スクリーニングすることを目的とした蛍光法の開発を試みた。高感度で位置分解能を持つXAFSスペクトルを得るために、シンチレーターを用いない直接撮像型の検出器とピンホールを用いて、入射エネルギー可変で高輝度のアンジュレータ放射光での実証を行った。

In the two-dimensional imaging XAFS method using an X-ray CCD detector, a transmission method has been applied to heavy elements with absorption edges at relatively high energies. Although the transmission method requires the sample to be an optimal thickness, the high-energy X-rays have high transmission capability, and can be applied to relatively thick samples. In this study, we attempted to develop a fluorescence method for fast screening of transition metal elements with the low energy X-ray absorption edges and their valence distribution in the samples such as glass materials, which are difficult to make thin. In order to obtain XAFS spectra with high sensitivity and positional resolution, a direct imaging detector without a scintillator and a pinhole were used. The results were demonstrated with a highly brilliant synchrotron radiation undulator X-ray with variable incident energy.

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