2MHz高周波源による高周波大強度負水素イオン源から引き出されたビームへの影響

Effect of a 2-MHz RF source on the H beam extracted from an RF-driven high-intensity H ion source

神藤 勝啓   ; 柴田 崇統*; 和田 元*

Shinto, Katsuhiro; Shibata, Takanori*; Wada, Motoi*

J-PARCやSNS, LINAC4では2MHzの高周波源を用いてイオン源内で水素プラズマを生成し、負水素イオンビームを引き出している。これまで、我々は高周波負水素イオン源より引き出された負水素イオンビームの特性について報告してきた。今回、高時間分解能でマクロパルス内でのエミッタンスの変化を測定する計測系を開発した。この計測系を用いてイオン源より引き出された負水素イオンビームのエミッタンスを測定したところイオン源のプラズマ生成に用いている高周波源と同じ周波数またはその高調波で揺動していることが分かった。本発表では、測定で得られたエミッタンス揺動の結果について報告する。

In most proton accelerator facilities such as J-PARC, SNS, CERN, a H ion source equipped with a 2-MHz rf driver for plasma generation produces H beams. We have reported H beam characteristics extracted from the J-PARC rf-driven high-intensity H ion source. We have been developing an emittance measurement apparatus equipped with a highly time-resolved data acquisition system in order to observe fluctuation of the beam emittance in association with the frequency of the rf driver. By using this apparatus, we found that the beam emittance is fluctuated with the frequency with the rf driver and higher harmonics. We will show some obtained results of the emittance fluctuation.