ガラス固化試料の放射光複合同時測定システムの構築

Construction of a combined synchrotron radiation based simultaneous X-ray measurement system for simulated waste glass samples

岡本 芳浩  ; 谷田 肇  ; 永井 崇之  

Okamoto, Yoshihiro; Tanida, Hajime; Nagai, Takayuki

放射光ビームを1mに集光したマイクロXAFS法を用いて、模擬廃ガラス試料の分析を進めている。これまでに、ガラス試料に付着したモリブデン酸塩の凝集体の分析に適用して成果をあげてきた。測定では、同時に蛍光X線(XRF)測定を行い、マイクロXAFS測定領域内にどのような元素が存在するのかを調べている。本研究では、これらにフラットパネルセンサを用いたX線回折測定を加えることで、XAFS-XRF-XRD複合分析装置を構築する計画である。これらの組み合わせが実現されれば、元素組成や結晶形状を分析しながらXAFS測定を行うことが可能になる。

We have used micro XAFS technique with a synchrotron radiation beam focused to 1 m for the analysis of simulated waste glass samples. It has been applied to the analysis of molybdate aggregates deposited in the glass sample. Simultaneous X-ray fluorescence (XRF) measurements are performed to determine what elements are present in the micro XAFS measurement area. By adding X-ray diffraction measurements using a flat panel sensor to these measurements, we plan to construct a combined XAFS-XRF-XRD analysis system. These combinations allow XAFS measurements to be performed while analyzing elemental composition and crystal form.