岸本 牧; 中村 龍也 
; 藤 健太郎; 坂佐井 馨 ; 片桐 政樹; 高橋 浩之*; 中澤 正治*
Kishimoto, Maki; Nakamura, Tatsuya; To, Kentaro; Sakasai, Kaoru; Katagiri, Masaki; Takahashi, Hiroyuki*; Nakazawa, Masaharu*
イメージングプレート(IP)の輝尽性発光現象に関する理論モデルを構築するために、
線を使ってIPの輝尽発光特性を実験的に調べた。その結果輝尽性強度は線照射線量に比例しておらず、それが線によって生じたIP中のF中心電子やEu
による捕獲正孔の一部が、後から生じた電子や正孔と再結合損失を起こすためであるらしいことを示した。次に励起レーザー照射に伴う輝尽蛍光体内での正孔数、伝導帯電指数、F中心電子数の時間変化に関する理論モデル式を構築した。最後にフェーディング特性に関する詳細な実験を行い、フェーディング現象が線照射による大量の不安定F(Br
)中心生成とその数の揺らぎによって生じるらしいことがわかった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 43 |
号 |
: | 2 |
ページ数 |
: | p.168 - 181 |
発行年月 |
: | 2001/02 |
キーワード |
: | イメージングプレート; 輝尽発光; 理論モデル; フェーディング; 正孔; F中心電子; 伝導帯電子; 非線形性; |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：12.01 分野：Nuclear Science & Technology |
Altmetrics |
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